布魯克X射線衍射系統

D8 DISCOVER with Davanci Design

布魯克公司D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領域的先進X射線衍射系統。配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以方便的在材料研究領域的不同應用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應力和織構分析。

布魯克 D8 D8 ADVANCE  X射線衍射儀

布魯克AXS公司D8 ADVANCE X射線衍射儀，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓光路互換、重新對光等問題成為過去

主要應用

高分辨XRD(HRXRD)

外延多層膜厚度

晶胞參數

晶格錯配

組份

應變及弛豫過程

橫向結構

鑲嵌度

 

X射線反射率(XRR)

薄膜厚度

組份

粗造度

密度

孔隙度

 

倒易空間圖譜(RSM)

晶胞參數

晶格錯配

組份

取向

弛豫

橫向結構

 

面內掠入射衍射 (in-plane GID)

掠入射小角X射線散射(GISAXS)

晶胞參數

晶格錯配

橫向關聯性

取向

物相組成

孔隙度

 

應力和織構分析

取向分布

取向定量

應變

外延關聯

硬度

 

物相鑒定(Phase ID)

物相組成

d值確定

擇優取向

晶格對稱性

晶粒大小