布魯克X射線衍射系統(tǒng)

D8 DISCOVER with Davanci Design

布魯克公司D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的先進(jìn)X射線衍射系統(tǒng)。配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動(dòng)識(shí)別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量(XRR)、高分辨測(cè)量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。

布魯克 D8 D8 ADVANCE  X射線衍射儀

布魯克AXS公司D8 ADVANCE X射線衍射儀，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓光路互換、重新對(duì)光等問題成為過去

主要應(yīng)用

高分辨XRD(HRXRD)

外延多層膜厚度

晶胞參數(shù)

晶格錯(cuò)配

組份

應(yīng)變及弛豫過程

橫向結(jié)構(gòu)

鑲嵌度

 

X射線反射率(XRR)

薄膜厚度

組份

粗造度

密度

孔隙度

 

倒易空間圖譜(RSM)

晶胞參數(shù)

晶格錯(cuò)配

組份

取向

弛豫

橫向結(jié)構(gòu)

 

面內(nèi)掠入射衍射 (in-plane GID)

掠入射小角X射線散射(GISAXS)

晶胞參數(shù)

晶格錯(cuò)配

橫向關(guān)聯(lián)性

取向

物相組成

孔隙度

 

應(yīng)力和織構(gòu)分析

取向分布

取向定量

應(yīng)變

外延關(guān)聯(lián)

硬度

 

物相鑒定(Phase ID)

物相組成

d值確定

擇優(yōu)取向

晶格對(duì)稱性

晶粒大小