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X射線熒光光譜儀分析螢石中的主次成分含量

日期:2020-07-12

螢石的常規濕法化學分析存在操作復雜、分析時間長等問題。X射線熒光光譜法分析方法,制樣簡單,分析速度快。現代的X射線熒光光譜儀精密度高,重復性好, 可以測量含量高達99%的CaF2。 波長色散型 X 射線熒光光譜儀(WDXRF) 有出色的輕元素分析性能,可以輕松分析超輕元素F。另外,X 射線熒光光譜儀的 高靈敏度,可以分析微量甚至痕量的元素, 如螢石中的S、P、K2O、Na2O,以及有害的重金屬元素。







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